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雷擊浪涌發生器SUR 8/20V1專門針對半導體器件及手機通信產品而設計的低壓浪涌試驗,依據電磁兼容試驗中的雷擊浪涌抗擾度試驗特點和要求而設計的低壓雷擊浪涌發生器。符合標準:GB/T 17626.5《電磁兼容 試驗和測量技術 浪涌(沖擊)抗擾度試驗》 、IEC61000-4-5:Testing and measurement techniques-Surge immunity test
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